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產品目錄

Product catalog

  • 2023
    6.25

    高光譜相機:打開物質世界的多彩畫卷

    近年來,隨著科技不斷發(fā)展和進步,各種先進的成像技術被廣泛應用于生產、醫(yī)學、地質探測以及環(huán)境監(jiān)測等領域。其中,高光譜成像技術是一項非常重要的成果之一。顧名思義,高光譜相機是指能夠對物體進行多波段連續(xù)頻率校準拍攝并得出其所含有的色彩信息的照相工具。與傳統(tǒng)單通道相機只能儲存紅、綠、藍三原色不同,在采集圖像時,高光譜攝影可檢測到更多特定波長下目標反射或輻射出來的信號,并將其記錄下來。這些數(shù)據可以通過計算處理后轉換為圖像生成更加詳細和真實的視覺效果。如何使用?在現(xiàn)代農業(yè)中就是一個很好例...

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  • 2023
    6.21

    【應用案例】Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗

    【應用案例】Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗應用案例Moku:Pro簡化雙色受激拉曼散射顯微鏡實驗介紹在華盛頓大學,研究人員致力于雙色受激拉曼散射(SRS)顯微鏡技術研究開發(fā)化學成像工具,用于早期癌癥檢測和了解神經退行性疾病進展。實驗裝置通常包括多個復雜的高性能儀器,用于實時雙色SRS成像或兩個相距較遠的拉曼躍遷的同步成像?,F(xiàn)在,他們正在使用Moku:Pro鎖相放大器和多儀器并行模式,僅通過Moku:Pro一臺緊湊的多通道設備進行多種實驗并捕捉低強度的SRS信號...

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  • 2023
    6.12

    Moku云編譯 + ChatGPT: 客戶定制化需求的天花板

    Moku云編譯+ChatGPT:客戶定制化需求的天花板Moku:pro不僅能夠解決大多數(shù)電學信號的測試和ji具難度的測量實驗,而且能夠支持jian端實驗,并能在設計具有du特要求的先jin產品時,具有優(yōu)xiu的表現(xiàn)??茖W家和工程師們經常會在軟件中進行方便的離線模擬或數(shù)據處理,此時他們會通過用戶可編程FPGA找到更高性能的解決方案。然而,盡管它們很有用,但這些解決方案有時候也會很復雜且難以實現(xiàn)。MokuCloudCompile(MCC)云編譯為熟悉FPGA編程的用戶xiao除了...

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  • 2023
    6.8

    透射光學材料的介紹

    光學成像要通過光學零件的折射和反射來實現(xiàn),決定一種材料能否用來制造光學零件,要看它對要求成像的波段是否透明,或者在反射的情況下是否具有足夠高的反射率。對于透射光學零件來說,透射材料的特性除了透過率之外,還有它對各種特征譜線的折射率,其中以D或d線的折射率nD或nd以及F線和C線的折射率差nF-nc作為其主要的光學性能參數(shù),這是因為F線和C線接近人眼光譜靈敏極限的兩端,而D線或d線在其中間,接近人眼靈敏的波長,nd稱為平均折射率,nF-nc稱為平均色散。此外,將?d=(nd-1...

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  • 2023
    5.29

    鎖模激光器的原理

    在一個簡單的激光器中,每一個模式都獨立地振蕩,彼此之間沒有固定的關系,本質上就像一組獨立的激光器,它們都以略微不同的頻率發(fā)光。每種模式中光波的各個相位都不是固定的,可能會因激光器材料的熱變化等因素而隨機變化。在只有少數(shù)振蕩模式的激光器中,模式之間的干擾會導致激光輸出中的拍頻效應,導致強度波動;在具有數(shù)千個模式的激光器中,這些干擾效應趨于平均到接近恒定的輸出強度。如果不是獨立振蕩,而是每個模式運行時與其他模式之間保持固定的相位差,則激光輸出的行為會截然不同。激光模式將周期性地相...

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  • 2023
    5.22

    點衍射干涉儀的精度檢驗方法

    點衍射干涉儀的精度檢驗方法點衍射干涉儀(PointDiffractionInterferometer,PDI)是一種基于衍射干涉原理的光學測量設備。它利用激光束小孔后產生接近理想的點光源對物體表面進行測量,可以實現(xiàn)對物體形狀、表面粗糙度、折射率等參數(shù)的高精度測量。點衍射干涉儀不需要標準參考件,可以用于超高精度面型的檢測,是一種非常重要的高精度測量儀器。1.1測試光路測試系統(tǒng)主要由D7點衍射干涉儀主機,準直器,5mm口徑鋁鏡,光學平臺等構成。1.2測試環(huán)境溫度:21℃&plus...

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  • 2023
    5.22

    非接觸式金屬膜厚測量儀的原理及應用

    非接觸式金屬膜厚測量儀是一種常見的表面分析儀器,其原理基于光學干涉或者電磁感應等技術。相比于傳統(tǒng)的劃痕法和化學分析法,非接觸式金屬膜厚測量儀具有高精度、快速和不破壞測試樣品等優(yōu)點,廣泛應用于材料科學、電子工程、光學制造等領域。原理是利用光學干涉原理或電磁感應原理來測定薄膜的厚度。其中,光學干涉法是通過反射光線之間的干涉來測量薄膜的厚度,而電磁感應法則是依靠磁場的變化來檢測薄膜的存在和厚度。這些原理都是建立在測量薄膜對光線或磁場的影響上,通過實時監(jiān)測信號變化來計算出薄膜的厚度。...

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  • 2023
    4.27

    Up to 98%光利用率—鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!

    Upto98%光利用率——鍍介質鏡型純相位高速高損傷閾值SLM!液晶空間光調制器(SLM)可以將數(shù)字化數(shù)據轉換為適合各種應用的相干光學信息,包括雙光子/三光子顯微成像、光鑷、自適應光學、湍流模擬、光計算、光遺傳學和散射介質成像等應用。這些應用需要能夠輕松快速地改變相干光束波前的調制器。通過將液晶材料的電光性能特征與基于硅的數(shù)字電路相結合,MeadowlarkOptics現(xiàn)在提供了高分辨率的SLM,這些SLM還具有物理緊湊性和高光學xiao率。圖一:緊湊的HSP1K(1024×...

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